Transistörler iki eklemden oluşmaktadırlar ve her iki eklemin de dirençleri bir transistorün hatalı olup olmadığını belirtebilir.
 |
| Transistör Bacaklarının Test Edilmesi |
Yukarıda XMM1 multimetresi ile PNP transistorünün collector-base uçları arasındaki direnç hesaplanmaktadır. XMM1 multimetresinin (+) uçlu probu collectora, (-) uçlu ucu da emittera bağlandığında bir anlamda bu transistorün iki ucu ileri kutuplanmış demek oluyor. O halde direncin değeri daha düşük olması gerekiyor. Neyden daha düşük olacağına da aynı iki ucun uçlarına multimetrenin problarıyla ters kutuplama uygulayarak bakabiliriz. Bu durumda beklentimiz ters kutuplanmış bir eklemin rezistivitesinin ileri kutuplanmış bir eklemin rezistivitesinden daha düşük olacağıdır. İleri kutuplamış XMM1 multimetresi ve ters kutuplamış XMM2 multimetresi de bunu göstermektedir.
 |
| Transistör Testi |
Beklentilerimize göre collector-base ucunda bir hata olmadığını tespit ettikten sonra bu sefer aynı PNP transistorünün emitter-base uçları arasındaki direnci multimetre ile hesaplayalım. XMM3 multimetresinin (+) uçlu probu base’e, (-) uçlu probu da emittera bağlandığında bir anlamda bu transistorün iki ucu ters kutuplanmış demek oluyor. Direnç değerini incelemeden önce bir de multimetrenin iki probunun yerlerini değiştirelim. Yani XMM4 multimetresinin (+) uçlu probunu emittera, (-) uçlu probunu da base’e bağlayalım. Bu durumda transistorün bu iki ucu ileri kutuplanmış oluyor. XMM3 ve XMM4 multimetrelerini incelediğimizde gerçekten de XMM3 multimetresinde elde edilen direnç değeri (ters kutuplama) XMM4 multimetresinden elde edilen direnç değerinden (ileri kutuplama) çok daha fazladır.
Genel olarak ileri kutuplama ve ters kutuplama sırasında elde edilen direnç değerleri arasındaki oran en az 1’e 10 şeklinde ise bu transistör yeterince iyidir.
Yukarıda PNP transistorü için yapılan işlemler NPN transistorünün eklem yapısına ve buna bağlı olarak ileri-ters kutuplanmasına göre rezistivitelerinin karşılaştırılması ile yapılabilir.
Hiç yorum yok:
Yorum Gönder