Transistör Bacak Tespiti ve Transistör Bacaklarının Test Edilmesi

Transistörler iki eklemden oluşmaktadırlar ve her iki eklemin de dirençleri bir transistorün hatalı olup olmadığını belirtebilir.

Transistör Bacaklarının Test Edilmesi

Yukarıda XMM1 multimetresi ile PNP transistorünün collector-base uçları arasındaki direnç hesaplanmaktadır. XMM1 multimetresinin (+) uçlu probu collectora, (-) uçlu ucu da emittera bağlandığında bir anlamda bu transistorün iki ucu ileri kutuplanmış demek oluyor. O halde direncin değeri daha düşük olması gerekiyor. Neyden daha düşük olacağına da aynı iki ucun uçlarına multimetrenin problarıyla ters kutuplama uygulayarak bakabiliriz. Bu durumda beklentimiz ters kutuplanmış bir eklemin rezistivitesinin ileri kutuplanmış bir eklemin rezistivitesinden daha düşük olacağıdır. İleri kutuplamış XMM1 multimetresi ve ters kutuplamış XMM2 multimetresi de bunu göstermektedir.

Transistör Testi



Beklentilerimize göre collector-base ucunda bir hata olmadığını tespit ettikten sonra bu sefer aynı PNP transistorünün emitter-base uçları arasındaki direnci multimetre ile hesaplayalım. XMM3 multimetresinin (+) uçlu probu base’e, (-) uçlu probu da emittera bağlandığında bir anlamda bu transistorün iki ucu ters kutuplanmış demek oluyor. Direnç değerini incelemeden önce bir de multimetrenin iki probunun yerlerini değiştirelim. Yani XMM4 multimetresinin (+) uçlu probunu emittera, (-) uçlu probunu da base’e bağlayalım. Bu durumda transistorün bu iki ucu ileri kutuplanmış oluyor. XMM3 ve XMM4 multimetrelerini incelediğimizde gerçekten de XMM3 multimetresinde elde edilen direnç değeri (ters kutuplama) XMM4 multimetresinden elde edilen direnç değerinden (ileri kutuplama) çok daha fazladır.
Genel olarak ileri kutuplama ve ters kutuplama sırasında elde edilen direnç değerleri arasındaki oran en az 1’e 10 şeklinde ise bu transistör yeterince iyidir.

Yukarıda PNP transistorü için yapılan işlemler NPN transistorünün eklem yapısına ve buna bağlı olarak ileri-ters kutuplanmasına göre rezistivitelerinin karşılaştırılması ile yapılabilir.

Hiç yorum yok:

Yorum Gönder

Etiketler

3G 7-segment 7805 7812 Amplifier Analiz Analog iletişim Arduino AVR Axiom Aristos baskı devre Bellek Beslemeli Kenetleyici Biased Limiters Bird Strike Biyomedikal blog butterworth CCD dedektörler Cep Telefonu CMOS Common Base Amplifier DAC0800 DC Motor Decoder Dedektör deney deney timer Devre Diode Clampers Diode Limiters Direnç Diyot Diyot kenetleyici devreler Diyot Limiter DO-178B Dolaylı Sıfırlamalı Doğrudan Sıfırlamalı Doğrultucular Döngüsel Sayıcılar Düzlem-Panel Dedektörler Elektrik Elektronik Projeler Entegre Devreler Fiber Optik filtreler flipflop Flora foruier serileri Fototransistör fourier dönüşümü FPGA Frekans Counter Function Generato gereksinim analizi GP810 GPS Grid Görüntü görünür ışığa dönüştürme Güç Ölçümleri Half-wave Rectifiers indüktör infrared fotodiyot JOHNSON SAYICISI kalite Kalite Standartları kapasitör karanlık algılayıcı Kaymalı Yazmaç Kenetleme Devreleri Kenetleyiciler Kırpıcılar Kolimasyon Laser Darbelerinin Algılanması Laser Darbelerinin Oluşumu Laser Diyod ldr led lineer sistem analizi lm324 LM358 lm555 timer lm741 MATLAB matlab kodları matlab çizim Maximite Mikrodenetleyiciler Mirocontroller MSP430 Mühendis Staj Mühendislik OP-AMP Optik Film Optik-Fiber Zayıflama Ölçümleri opto-coupler osilatör Osiloskop paralel devreler Paralel – Seri Dönüşüm PIC PIC16F877 PIC16F877A PIC16F886 PIC32MX Plaka Okuma PLC Proje pwm Radiology Radyasyon Radyoaktivite Radyografi Radyoloji Rectifiers Register RFID RL devreleri RL FİLTRELERİ RLC Filtre Robot Robotics röntgen Röntgen Cihazları sayıcılar Sayısal Dedektör Sayısal iletişim Selenyum Dedektör sensor network sensör seri devreler seven-segment sıcak ayna sistem mühendisliği Solid State soğuk ayna Staj svf Swot Analizi Tam Dalga Doğrultucu temel AC devre temel DC devre termistör Test Tez transistor Transistör Bacaklarının Testi transistör yükseltgeç ULN2803 Ultrason Video Kodlama volt Wireless X-ışını Yarım Dalga Doğrultucuları yazmaçlar Yüz tanıma Çarpma