Okuma düzeneklerinde matris boyutlarının azaltılması dolgu faktörü problemini doğurur. Düzlem panel dedektörlerdeki tüm dedektör elemanları iki kısımdan oluşur. Birinci kısım ışığa duyarlı bölge ikinci kısım ise elektronik bileşenlerin toplandığı bölgedir. Dolgu faktörü ışığa duyarlı bölge hacminin tüm dedektör elemanı hacmine oranıdır. Piksel boyutlarının küçültülmesi dolgu faktörünün küçülmesine neden olur ve dedektörün DQE değerleri düşer. Bu yüzden piksel boyutları 100µm nin altında olamaz.
Neredeyse tüm geniş alan düzlem -panel dedektörleri okuma düzeneği olarak aktif matriks aygıtları kullanırlar. Bu teknoloji gösterge aygıtları için geliştirilmiştir ve yüksek radyasyon toleranslı geniş alan x-ışını dedektörlerinin üretilmesine olanak sağlar. Fakat elektronik özellikleri ve üretilebilir minimum boyutları idealin altındadır.
Bir başka yöntem CMOS teknolojisidir. CMOS lar aktif matrislerdir. Ama amorf silikondan değil silikon kristallerinden oluşurlar. İleri yarıiletken teknolojisini kullanılarak üretilirler. CMOS lar yüksek dolgu faktörü iyi çözünürlük, duyarlılık ve hızlı okuma olanakları sunarlar. Üstün br özellikleri ise her pikselin çip olarak entegre edilebilmesidir. Bu özellik CMOS lara foton sayımı ve enerji ayrımı gibi ekstra fonksiyonlar kazandırır.
Hiç yorum yok:
Yorum Gönder